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| 型号： | TDS540 |
| 产品说明： | ·500MHz带宽 ·1GS/s采样率 ·四通道 ·时间间隔、2ns毛刺、脉冲幅度异常， 逻辑图及状态触发 ·1mV/格至10V/格灵敏度 ·无限余辉和可变余辉显示 ·记录长度每通道50,000点 ·8-bit垂直分辨率，高分辨率方式时 可提高至15bit ·1%垂直精度 ·可选FFT，微分及积分 ·25种参数自动测量 ·高分辨率彩色显示 ·3.5”DOS兼容磁盘 信号采集系统 通道数：四个 数字化仪：四个 带度：500MHz 灵敏度：1mV至/10V格 移位范围：±5格 偏置±1V.1～99.5mV/格； ±10V,100mV～995mV/格； ±100V, 1～10V/格 采样器：1GS/s 垂直系统 直流增益精度：±1.0% 垂直分辨率:8-bit（将10.24个垂直格分成256级） 模拟带宽选择：20MHz,100MHz或全带宽 输入耦合：交流,直流或接地 输入阻抗:1MΩ/10pF或50Ω（交流或直流耦合） 输入电压：±400V(直流+交流峰值)、频率高于1MHz时， 以20dB/倍频程下降。1MΩ输入阻抗或接地耦合。 通道间隔离：≥100MHz时，>100:1; >30:1两通道之间有着相同 的电压偏转系数 AC耦合时低频限制：≤10Hz,AC/1MΩ耦合时； ≤200KHz, AC/50Ω耦合时； 时基系统 时基：主时基，延迟时基 扫描速度：500ps至10s/格 时基精度：间隔大于等于1ms时为0.0025% 记录长度：500至15000点（50000点选件1M） 预触发位置：记录0～100%间 采集方式 峰值检测：捕捉高频和随机毛刺，在所有实时取样方式下，捕捉大于等于4ns的毛刺。 取样：只取样数据 包络：单次或多次采集到的/值 平均：可选择2次至10000次平均 高分辨率：提高采集低频信号的垂直分辨率和和减小噪声，例如50μs/格或更慢时达12-bit 触发系统 触发器：主触发，延迟触发 主触发方式：自动，常态，单次 延迟触发：时间延迟，事件延迟或时间和事件延迟 时间延迟范围：16ns至250s（扫描时间≤10μs） 15.1ns至250s（扫描时间≥25μs） 事件延迟范围：1至9,999,999个事件 外触发输入口：>1.5KΩ；直流加交流峰值输入电压为±20V。 显示 波形类型：点阵或矢量，无限余辉或可变余辉，余辉时间为250ms至10s 灰度：16级亮度分级（可变余辉时）提供有关快变信号的‘Z 轴’信息 更新率：无限余辉时，若每波形为500点，则每秒钟更新200次 CRT类型：7寸，磁偏转，水平光栅扫描，P4白色磷粉 分辨率：640×480 ZOOM（缩放） ZOOM特性可将波形放大，压缩和进行水平，垂直位移，在不影响正常波形采集的情况下进行波形的精密比较和细微研究，与高分辨率或平均方式一起使用时，有效的垂直动态范围为100格。 阈值：可以百分数或电压值设定 门限：用垂直双线可将记录的任意部分隔离出来用于测量 快照：过完成单波形的25种参数测量，并即刻将结果显示出来。 游标测量：，相对值，电压，时间和频率 游标类型：水平双线（电压）；垂直双线（时间）；可独立使用或在跟踪方式下使用。 波形处理 波形函数：任选（Sinx/x或线性内插法，平均或包络 先进的波形函数（选件）：FFT、微分、积分 算术运算：加、减、乘、反相 自动设置：单键完成，根据选定信号自动设置垂直、水平和触发系统 自动极限测试：将输入波形与参考波形的上、下限比较 计算机接口 GPIB（IEEE-488.2）可程控能力： 全听/讲功能：所有模式、状态和测量均可控制。 存贮 波形：4个5000点之记录，总共50000点。 状态：十个前面板状态 物理特性 尺寸：236mm(高)×445mm(宽) ×432mm长 重量：12.3公斤 订货信息 TDS540数字示波器 标准附件包括：四根P6139A 10X无源探头，说明书一本，电源线一 根 |
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